GaN/Al2O3上Ge薄膜的CVD外延生长
摘 要:本工作采用化学气相淀积方法,以GcH4为反应气源,以InN/CaN/Al2O3(0001)复合衬底作陪片,在CaN/Al2O3(0001)复合衬底上外延生长了Ge薄膜,并对生长机理进行了探讨.研究结果表明:直接在N2气氛下外延得到了多晶Ge薄膜,表面较平整,由吸收光谱得出其带隙宽度为0.78 eV;经过H2预处理,CaN/Al2O3复合衬底表面出现金属In的沉积,外延Ge薄膜沿(111)方向择优生长,晶体质量较高.
关键词:化学气相淀积;Ge薄膜;GaN;金属In
分类号:TN304.055 文献标识码:A
文章编号:1672-7126(2008)增刊-009-04
Chemical Vapor Deposition of Ge on GaN/Al2O3(0001) Substrates
Wang Ronghua Han Ping Cao Liang Mei Qin Wu Jun Ge Ruiping Xie Zili Chen Peng Lu Hai Gu Shulin Zhang Rong Zheng Youliao
基金项目:国家重点基础研究发展规划(No.2006CB604900);国家高技术研究发展规划(No.2006AA03A103,2006AA03A142);国家自然科学基金(No.60421003);高等学校博士学科点专项科研基金(No.20050284004)和单片集成电路与模块国家级重点实验室2006年度基金(No.9140C1404010605)
作者简介:韩平,联系人:E-mail:hanping@nju.edu.cn
作者单位:王荣华(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
韩平(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
曹亮(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
梅琴(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
吴军(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
葛瑞萍(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
谢自力(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
陈鹏(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
陆海(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
顾书林(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
张荣(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
郑有炓(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
参考文献:
[1]Lieten R R,Degroote S,Cheng K,et al.Growth of GaN on Ge (111) by molecular beam epitaxy.Apply Physics Letter,2006,89:252118
[2]Lieten R R.Cormaniurn-a surprise base for high-quality nitrides.Compound Semiconductor,2007,13,(3):14
[3]Draxler M,Walker M,McConville C F.Formation of metallic indium during atomic hydrogen cleaning of InN(0001) surfaces.Nuclear Instrument & Methods in Physics Research,B,2006,249:886
[4]刘成祥,谢自力,韩平,等.InxGa1-xN合金薄膜In的表面分凝现象.半导体学报,2006,27,增刊:97
[5]Elaissa Trybusa,Con Namkoonga,Walter Henderson,et al.Journal of Crystal Growth,2005,279:311
[6]McAlister A J,Murray J L.Binary Alloy Phase Diagrams,2nd ed.ASM International,Metals Park,OH,1990,2:1956
[7]杨根,谷锦华,卢景霄,等.射频PECVD高速沉积微晶硅薄膜.真空科学与技术学报,2007,27(3):350
[8]沈学础.半导体光学性质.科学出版社,第1版,1992:22